The 81st JSAP Autumn Meeting, 2020

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

[10p-Z09-1~20] 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

Thu. Sep 10, 2020 12:30 PM - 6:00 PM Z09

Koichiro Saga(Sony), Nobuya Mori(Osaka Univ.), Takashi Hasunuma(Univ. of Tsukuba)

2:15 PM - 2:30 PM

[10p-Z09-7] Formation and Characterization of Graphene on SiC Modified by Plasma Oxidation and Wet Etching

Makoto Ochi1, Ouki Minami1, Yasuhisa Sano1, Kentaro Kawai1, Kazuya Yamamura1, Kenta Arima1 (1.Osaka Univ.)

Keywords:graphene, SiC, surface modification

SiC基板を用い、真空中で熱分解法により形成するグラフェンには、ピットと呼ばれる欠陥が生成される。我々は、室温でのプラズマ酸化とウェットエッチングを併用し、SiC表面を改質するプロセスの開発を進めている。本プロセスは、分子層オーダーのC堆積層をSiC表面上に形成できるという特徴がある。本稿では、先述の手法で形成したグラフェンの構造の評価と、Ni薄膜を用いたSiC表面からの剥離実験の結果について、報告する。