[9p-Z24-1~14] 【CS.7】 7.4 量子ビーム界面構造計測と9.5 新機能材料・新物性のコードシェアセッション

[9p-Z24-9] XANAMによるGe量子ドット像の1次元 元素マッピング

〇鈴木 秀士¹、向井 慎吾²、田 旺帝³、野村 昌治⁴、藤森 俊太郎¹、池田 弥央¹、牧原 克典¹、宮﨑 誠一¹、朝倉 清高² (1.名大院工、2.北大触媒研、3.ICU、4.KEK-PF)

キーワード：放射光X線, 非接触原子間力顕微鏡, ゲルマニウム量子ドット

試料表面の化学分析をナノスケールで行う手法として、NC-AFMと放射光X線を組み合わせたX線支援非接触原子間力顕微鏡（XANAM）を開発してきた。これまでX線照射下のGe量子ドットを数ナノスケールの空間分解能でイメージングが可能であることを報告した。今回、Ge量子ドット像のX線エネルギー依存性をより高精度に測定し、力変化の起源、XANAMの空間分解能について報告する。