The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

[14a-A305-1~11] 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

Sat. Mar 14, 2020 9:00 AM - 12:00 PM A305 (6-305)

Kuniyuki Kakushima(Tokyo Tech)

11:30 AM - 11:45 AM

[14a-A305-10] Development of Minimal Ion Implantation Tool (II)

Noriko Miura1, Naoki Hashimoto1,2, Yoshitaka Kitamura1,2, Fumito Imura1,3, Kazushige Sato1, Kazuhiro Koga1, Yuuki Ishida1,3, Toshiyuki Oodaira1,3, Sommawan Khumpuang1,3, Shiro Hara1,3 (1.MINIMAL, 2.FUJI IMVAC INC., 3.AIST)

Keywords:minimalfab, Ion Implantation

我々はミニマルファブの開発の一環として、イオン注入装置の開発も行っている。装置を小型化するために、イオン発生器側を接地電位としてステージ側に負の電圧をかけることで高電圧の絶縁を極小化し、狭い筐体内に部品を密接して配置することを可能にしたが、その反面、ステージ側のイオン電流測定が困難となった。本研究では、高電圧電位で使用可能な微少電流計を開発し、注入量の制御を図ったので、その結果について報告する。