2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

[14a-A305-1~11] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

2020年3月14日(土) 09:00 〜 12:00 A305 (6-305)

角嶋 邦之(東工大)

11:30 〜 11:45

[14a-A305-10] ミニマルイオン注入装置の開発 (II)

三浦 典子1、橋本 直樹1,2、北村 是尊1,2、居村 史人1,3、佐藤 和重1、古賀 和博1、石田 夕起1,3、大平 俊行1,3、クンプアン ソマワン1,3、原 史朗1,3 (1.ミニマルファブ推進機構、2.フジインバック、3.産総研)

キーワード:ミニマルファブ、イオン注入

我々はミニマルファブの開発の一環として、イオン注入装置の開発も行っている。装置を小型化するために、イオン発生器側を接地電位としてステージ側に負の電圧をかけることで高電圧の絶縁を極小化し、狭い筐体内に部品を密接して配置することを可能にしたが、その反面、ステージ側のイオン電流測定が困難となった。本研究では、高電圧電位で使用可能な微少電流計を開発し、注入量の制御を図ったので、その結果について報告する。