[14a-A403-1~9] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

[14a-A403-3] Recovery Process of PID on p-Type-Based-Multicrystalline-Silicon-PV Modules by Application of Reverse-DC Voltage

〇Yasushi Sobajima¹, Go Sian Hi¹, Shingo Hashimoto¹, Kengo Shimizu¹, Nobukazu Kameyama¹, Fumitaka Ohashi¹, Hiroki Yoshida¹, Atsushi Masuda², Shuichi Nonomura¹ (1.Gifu Univ., 2.AIST)

Keywords:Solar Cell, Potential Induced Degradation

多結晶シリコン太陽電池モジュールの劣化現象として知られる電圧誘起劣化(PID)現象の単時間回復手法として、p-n接合への直流電圧印加を行う手法の適用性評価を行った。サーモグラフィーによるプロセス中の温度評価を行った結果、電圧印加による温度上昇が確認された。この結果を受けて講演では高速回復技術や適用範囲についての報告も行う。