The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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8 Plasma Electronics » 8 Plasma Electronics(Poster)

[15a-PB2-1~22] 8 Plasma Electronics

Sun. Mar 15, 2020 9:30 AM - 11:30 AM PB2 (PB)

9:30 AM - 11:30 AM

[15a-PB2-11] Mass Spectrometric Study on Incident Radicals onto Electrode in Low-Pressure RF Tetramethylsilane Plasmas with Different Dilution Gases

Yoshiaki Watanabe1, Syun Suzuki2, Kouichi Ishii2, Akinori Oda2, Takayuki Ohta3, Hiroyuki Kousaka4 (1.Innovation Science, 2.Chiba IT., 3.Meijo Univ., 4.Gifu Univ.)

Keywords:RF plasma, Tetramethylsilane, Mass Spectrometer

ダイヤモンドライクカーボン( Diamond-Like Carbon,以下DLC)膜の成膜手法として,プラズマ支援化学気相成長( Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition) 法が多く利用されている.このとき,Si-DLC 成膜時のプラズマ生成用ガスとしてテトラメチルシラン (Tetramethylsilane,以下TMS)がよく用いられている.本研究では,He,Ne,Ar という異なる不活性ガスで希釈されたTMS ガスを用いて容量結合型RF 低圧プラズマを生成し,四重極質量分析装置を用いSi-DLC成膜に寄与する電極に入射するイオン・ラジカルの測定を行ったので,その結果について報告する.