09:30 〜 09:45 [13a-N304-3] 低温におけるバルクMOSFETの特性ばらつきの統計解析 〇水谷 朋子1、竹内 潔1、更屋 拓哉1、小林 正治1,2、平本 俊郎1 (1.東大生研、2.東大d.lab)