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[11p-N302-8] 電界効果トランジスタの動作解析による多層MoS2に対するフッ素プラズマ処理効果の理解
キーワード:遷移金属ダイカルコゲナイド、表面処理、ショットキー接合
遷移金属ダイカルコゲナイドの一つであるMoS2において、天然結晶から剥離した薄片がノーマリーオンのn型特性を示すことが多いことを考慮し、p型ドーピング効果が期待できるフッ素プラズマ処理を行った。このフッ素プラズマ処理効果を理解するため、処理前後のFET特性を詳細に解析した結果について報告する。処理後のn型チャネルにおいて、処理前にはなかった閾値電圧のシフトが観測された。これは電極接合部においてプラズマ構成元素が界面拡散を起こし、Fermi準位ピニングが部分的に外れた結果であると考えられる。