2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

[12a-N305-1~10] 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

2021年9月12日(日) 09:00 〜 11:45 N305 (口頭)

牧野 高紘(量研機構)

10:45 〜 11:00

[12a-N305-7] イオン注入および熱処理による4H-SiC 中への発光中心の選択的形成

小林 拓真1,2、Rühl Maximilian1、Lehmeyer Johannes1、Zimmermann Leonard1、Krieger Michael1、Weber Heiko1 (1.エアランゲン大、2.阪大院工)

キーワード:炭化珪素、カラーセンター、イオン注入

半導体中の発光中心は量子演算・センシング等の量子技術への応用で期待されている。炭化珪素(SiC)は広いバンドギャップを有する上、デバイス作製技術が確立しており、発光中心のホストとして魅力的な材料である。本研究では、SiC を用いた量子デバイスのオンチップ集積化を目指し、イオン注入および熱処理で生成するSiC 中の発光中心を調査した。