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[17p-Z26-13] ライナー・バリアフリー次世代配線材料CuAl2の物理的特性
キーワード:半導体、新規配線材料
ULSIのダウンスケーリングにより、Cu配線の配線遅延は深刻な問題となってきている。Cu配線においては、ライナー層としてTa、バリア層としてTaNが用いられてきたが、いずれの層も必要としないことが好ましい。近年、金属間化合物であるNiAl,Cu2Mg,CuAl2がライナー・バリアフリーの次世代材料の候補として報告されている。本発表では、CuAl2の濡れ性、拡散抑制性についての研究内容を報告する。