[19p-Z14-1~18] 6.3 Oxide electronics

△ [19p-Z14-12] Quantitative evaluation of electrochemical lithium-ion diffusion in WO₃ thin films

〇Ryosuke Tokunaga¹, Kohei Yoshimatsu¹, Hiroshi Kumigashira¹ (1.IMRAM, Tohoku Univ.)

Keywords:Tungsten oxide, electrochemistry

電極活物質へのイオン挿入・脱離反応は、酸化物薄膜の物性を可逆的に変化させる手法として注目される。酸化タングステン(WO₃)は結晶中にLiイオンを挿入でき、それに伴う系統的な物性変化を評価できる材料と考えられる。本研究では高品質なWO₃薄膜を合成し、電気化学反応によりLiイオン挿入を行なった。表面反応の影響を分離し挿入反応に寄与する電荷量だけを抽出することで、挿入イオン量の定量的評価を試みた。