2021年第68回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[19p-Z14-1~18] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2021年3月19日(金) 13:30 〜 18:15 Z14 (Z14)

神吉 輝夫(阪大)

16:30 〜 16:45

[19p-Z14-12] 電気化学反応を用いたWO3薄膜へのリチウムイオン拡散の定量的評価

徳永 凌祐1、吉松 公平1、組頭 広志1 (1.東北大多元研)

キーワード:酸化タングステン、電気化学

電極活物質へのイオン挿入・脱離反応は、酸化物薄膜の物性を可逆的に変化させる手法として注目される。酸化タングステン(WO3)は結晶中にLiイオンを挿入でき、それに伴う系統的な物性変化を評価できる材料と考えられる。本研究では高品質なWO3薄膜を合成し、電気化学反応によりLiイオン挿入を行なった。表面反応の影響を分離し挿入反応に寄与する電荷量だけを抽出することで、挿入イオン量の定量的評価を試みた。