The 83rd JSAP Autumn Meeting 2022

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.7 Compound and power devices, process technology and characterization

[22a-B204-1~11] 13.7 Compound and power devices, process technology and characterization

Thu. Sep 22, 2022 9:00 AM - 12:00 PM B204 (B204)

Mitsuru Sometani(AIST), Takuji Hosoi(Kwansei Gakuin Univ.)

9:30 AM - 9:45 AM

[22a-B204-3] Electrical Characteristics of gated SiC pn diodes

Kotaro Ano1, Kuniyuki Kakushima1, Kazuo Tsutsui2, Hitoshi Wakabayashi1, Takuya Hoshii1, Takashi Yoda2,3 (1.Tokyo Tech. School of Eng., 2.Tokyo Tech. IIP, 3.NuFlare Tech. Inc.)

Keywords:semiconductor, gated pn diode

従来のSiCpnダイオードでは、製作時に生じる様々な問題から、理想的なダイオード特性を得ることは難しい。そこで周辺電流の測定に用いられるゲート付きダイオードを製作し、ゲート電圧を印加してpn接合の電気的特性を測定したところ、一定のn値抑制効果を得られたので、ここに報告する。