The 69th JSAP Spring Meeting 2022

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Oral presentation

8 Plasma Electronics » 8.1 Plasma production and diagnostics

[22p-E105-1~18] 8.1 Plasma production and diagnostics

Tue. Mar 22, 2022 1:00 PM - 6:00 PM E105 (E105)

Daisuke Ogawa(Chubu Univ.), Tomoyuki Murakami(Seikei Univ.)

2:45 PM - 3:00 PM

[22p-E105-7] Ar-N2 Arc Temperature Analysis by Relative Intensity Method Considering Line and Continuum Emissions

〇Yuki Takemoto1, Manabu Tanaka1, Takayuki Watanabe1 (1.Kyushu Univ.)

Keywords:thermal plasma, arc temperature measurement, DC arc

アークからの連続光は,高速度カメラによるアーク温度計測の誤差要因の一つである.線スペクトルに加えて連続光として制動放射と再結合放射を考慮した相対強度法を用いることで,連続光による誤差の軽減を図った.アルゴン窒素雰囲気の直流アークにおけるアーク温度計測結果について報告する.