The 69th JSAP Spring Meeting 2022

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

[24a-E103-1~13] 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

Thu. Mar 24, 2022 9:00 AM - 12:30 PM E103 (E103)

Kuniyuki Kakushima(Tokyo Tech), Tatsuya Okada(Univ. of the Ryukyus)

12:15 PM - 12:30 PM

[24a-E103-13] Study of Multilayer Wiring Process using Minimal Water Plasma Ashing

〇Noriko Miura1,2, Masashi Kase3, Takeshi Aizawa2,4, Mitsunori Nogawa2, Yasuhiro Onishi2, Tatsuo Ishijima4, Sommawan Khumpuang1,3, Shiro Hara1,3 (1.MINIMAL, 2.YONEKURA, 3.AIST, 4.KANAZAWA Uinv.)

Keywords:minimalfab, resist removal process, plasma process

ミニマルファブにおける新規のレジスト除去プロセスとして、低環境負荷でレジスト除去速度の速い「水プラズマアッシング技術」を開発している。本研究では、水プラズマアッシングプロセスの実用性評価のため、多層配線工程に組み込んで配線抵抗特性を評価したので、その結果について報告する。