[25p-E304-1~15] 12.2 評価・基礎物性

[25p-E304-9] 光電子収量分光から材料の状態密度を求める解析法について(1) : 金薄膜からの光電子の場合

〇石井 久夫^1,2,3、渡邊 研太²、中澤 遼太郎²、田中 有弥^1,2 (1.千葉大先進、2.千葉大院融合理工、3.千葉大MCRC)

キーワード：光電子分光、光電子収量分光、一定終状態光電子収量分光

低エネルギー紫外光源を用いた光電子分光、一定終状態光電子収量分光、ならびに光電子収量分光から材料の状態密度情報を得るための解析法について論じる。特に、光電子収量分光の収量スペクトルの微分を用いて状態密度を推定する解析法の妥当性について、金薄膜の測定結果に基づいて議論する。