[15p-D209-1~12] 7.2 Applications and technologies of electron beams

[15p-D209-6] Changes in SK chart depending on the modification state of the emitter surface

〇Takashi Kawakubo¹, Hiroki Kuroda¹, Koji Misaki¹ (1.NIT,Kagawa)

Keywords:field emission, Fowler-Nordheim plot, emitter

我々は，ZrO/W(100)電子源よりも低仕事関数で高輝度な特性を持つ電子源の開発を目指し，ジルコニウムに代わる修飾材料の探索を行い，電子放射実験を行うことでその特性を調査している。電子放射実験において，電子源試料を加熱し修飾材料を電子放射面へ拡散させていくと，その修飾状態が変化し，電子放射特性が変化していく様子が見られる。本報告では，その様子を，電子源試料からの電子放射像と放射特性から描いたSKチャートで調査したので報告する。