[15p-E302-1~10] Emergence of novel superconducting device by spaciotemporal manipulation

[15p-E302-7] FIB-microfabrication and Application to Depairing Current Density Measurements of Iron-based Superconductors

〇Haruhisa Kitano¹, Naoki Mine¹, Takamaro Miyazawa¹, Kotaro Jimbo¹, Yuki Motoyama¹, Yuta Kosaka¹, Tsuyoshi Tamegai², Yue Sun³ (1.Aoyama Gakuin Univ., 2.The Univ. of Tokyo, 3.Southeast Univ.)

Keywords:Depairing current density, FIB, Iron-based superconductors

第２種超伝導体の臨界電流は、外部磁場または電流印加により生成された渦糸磁束の運動に起因するデピニング機構に支配されるため、超伝導材料の臨界電流密度向上には人工的な強いピニング機構導入が重要となる。一方、超伝導センサーで多用される微細なブリッジ形状では、磁束侵入磁場の実効的増大と電流密度の空間均一性向上により、デピニング臨界電流密度をはるかに凌駕する電流密度領域で達成できる対破壊電流密度が測定できる。我々は、集束イオンビーム(FIB)加工技術を用いて、鉄系超伝導体Fe(Te,Se)単結晶から様々な面間・面内微小ブリッジ素子を作製し、パルス電流印加法による対破壊電流密度測定に成功した。本講演では、別の鉄系超伝導体Ba122に対する測定結果と共に、対破壊電流領域への到達に向けた素子作製方法や対破壊電流の検証方法及び超伝導センサーへの適用について議論する。