2023年第70回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

[16a-B410-1~9] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

2023年3月16日(木) 09:00 〜 11:30 B410 (2号館)

曽根 正人(東工大)、米谷 玲皇(東大)

09:45 〜 10:00

[16a-B410-4] Ti/Au 多層カンチレバーの実効ヤング率における構造因子の研究

〇(B)渡邉 春海1、Chun-Yi Chen1、栗岡 智行1、Tso-Fu Mark Chang1、大西 哲1、Parthojit Chakraborty1、町田 克之1、伊藤 浩之1、三宅 美博1、曽根 正人1 (1.東工大)

キーワード:微小電気機械システム、加速度センサ、実効ヤング率

近年、微小電気機械システム(MEMS)加速度センサの更なる小型化と高感度化が求められて いる。一方我々は、熱運動由来のノイズを低減するため、高密度な金材料からなる高感度 MEMS 加速度センサの開発を続けている。高感度 MEMS 加速度センサを設計するうえで、マイクロスケ ールでの金材料の様々な機械的特性の計測が重要である。本論文では、金めっきばねを設計するために、Ti/Au 積層構造を有するカンチレバーの実効ヤング率における構造因子の包括的研究を行う。積層構造(単層型(SL)、二層型(DL)、三層型(TL))やカンチレバーの長さ及び幅が異なるカンチレバーを設計し、寸法の異なる計240 本のカンチレバーを作製し、実効ヤング率を評価した。その結果、カンチレバーの幅は実効ヤング率に影響しないが、積層構造がカンチレバーの実効ヤング 率を決定する強い支配因子である結果を見出した。