[17a-A502-1~8] 3.7 光計測技術・機器（旧3.8）

[17a-A502-6] 偏光探査型偏光撮像法における光散乱現象の調査

〇(M2)小野 佑樹¹、坂本 盛嗣^1,4、野田 浩平^1,4、佐々木 友之^1,4、田中 雅之^2,4、川月 喜弘^3,4、小野 浩司^1,4 (1.長岡技科大、2.株式会社オプトゲート、3.兵庫県立大、4.CREST, JST)

キーワード：偏光イメージング、ストークスパラメータ、偏光回折格子

偏光照明下において、偏光空間分布を計測する手法である偏光探査型偏光撮像法（以下、PPPI 法）によって光散乱媒体であるすりガラスを用いた一連の測定を行い、光散乱媒体がPPPI法に及ぼす影響の調査を行った。特に、すりガラスとパターン付き位相差板を重ねたサンプルの測定結果から、長波長光源の使用はすりガラスによって発生するレイリー散乱によるノイズの低減に寄与し、最も位相パターンが鮮明に可視化する結果が得られた。