2023年第70回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

[18a-A301-1~13] 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

2023年3月18日(土) 09:00 〜 12:30 A301 (6号館)

牧山 剛三(住友電工)

12:00 〜 12:15

[18a-A301-12] GaN HEMTのGaNトラップによるY22信号と過渡応答特性の比較

大石 敏之1、加地 大樹1、田渕 田渕1、大塚 友絢2、山口 裕太郎2、新庄 真太郎2、山中 宏治2 (1.佐賀大学、2.三菱電機株式会社)

キーワード:GaN HEMT、トラップ

二端子対回路パラメータと低周波小信号を利用したトラップ評価方法と過渡応答を比較した。今回はY22とドレインラグについて比較した。ドレインラグはゲート電圧一定の条件でドレイン電圧をステップ上に変化させるため、Y22と比較的似ているためである(Y22は低電力の交流を入力とする)。その結果、過渡応答の終点のドレイン電圧とY22のDCバイアスを等しくした場合にトラップピーク周波数が似た傾向をとることがわかった。しかし、応答波形の形状がY22では対称、過渡応答では非対称となった。これはY22では入力信号の大きさが小さいため、平衡状態に近い状態でトラップの応答を測定できているためと考えられる。