講演情報

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口頭講演

E: レーザー計測

[E06-18p-III] 顕微鏡・干渉計測

2024年1月18日(木) 15:00 〜 17:00 第III会場 (プラザ平成-会議室1)

座長：立崎武弘（東海大）

16:15 〜 16:30

[E06-18p-III-05] 低コヒーレンス干渉法を用いた薄膜材料の群屈折率シングルショット計測法の開発

*森田大樹¹、栗原諒¹、高和研利²、中島由智²、高和宏行²、大矢尚司²、東口武史¹ (1. 宇都宮大学、2. トライオプティクスジャパン)

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予稿は、会期1日目の1月16日（火）に公開します。