09:50 〜 10:10
[F-102] 走査プローブ顕微鏡を用いたナノスクラッチ試験による高分子フィルム表面の物性評価
キーワード:ナノスクラッチ試験、走査プローブ顕微鏡、フィルム表面、ナノトライボロジー
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一般セッション
一般セッション » 構造・物性・評価
2024年6月19日(水) 09:50 〜 10:50 F会場 (4階 研修室)
座長:信川 省吾(名古屋工業大学)
09:50 〜 10:10
キーワード:ナノスクラッチ試験、走査プローブ顕微鏡、フィルム表面、ナノトライボロジー
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