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一般ポスターセッション

2024年6月20日(木) 12:00 〜 12:40 一般ポスター会場(P1) (P会場)

[P-029] 全自動式粒子画像解析法による無機フィラーの統計的粒子形態評価に関する可能性検討

*梶原健寛¹、浜田寛之¹、笹倉大督¹ (1. スペクトリス株式会社)

キーワード：粒子形態、粒子画像解析、フィラー

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