日本放射化学会第66回討論会(2022)

講演情報

基盤セッション 計測・検出器

基盤セッション I: 検出器・計測・イメージング

基盤セッション I: 検出器・計測・イメージング

2022年9月16日(金) 17:45 〜 18:45 341室

[2P11] 超伝導転移端検出器を利用したマイクロ蛍光X線分光法による環境試料中のウランの分析

*蓬田 匠1,2、山田 真也3、一戸 悠人3、佐藤 寿紀3、早川 亮大3、岡田 信二4、外山 裕一4、橋本 直2、野田 博文5、磯部 忠昭6、奥村 拓馬7、高取 沙悠理8、平木 貴宏8、竜野 秀行7、 関澤 央輝9、新田 清文9、栗原 雄一10、宇留賀 朋哉9、北辻 章浩2、高橋 嘉夫1 (1. 東京大学、2. 日本原子力研究開発機構、3. 立教大学、4. 中部大学、5. 大阪大学、6. 理化学研究所、7. 東京都立大学、8. 岡山大学、9. 高輝度光科学研究センター、10. 京都大学)

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