シリコン半導体検出器の重イオン測定における波高欠損の研究

講演情報

基盤セッション　計測・検出器

基盤セッション I:　検出器・計測・イメージング

2022年9月17日(土) 09:40 〜 11:05 B会場 (206室)

座長:高橋嘉夫、浅井雅人(日本原子力研究開発機構 (JAEA))

10:35 〜 10:50

[3B04] シリコン半導体検出器の重イオン測定における波高欠損の研究

*石橋優一¹、松永壮太郎¹、浅井雅人²、森田浩介¹、坂口聡志¹、塚田和明²、佐藤哲也²、伊藤由太² (1. 九州大学、2. 原子力機構)

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