The Japan Society of Applied Physics

[K-1-6] Dislocation-Based Si-Nanodevices

M. Reiche1, M. Kittler2, D. Buca3, A. Hähnel1, Q. T. Zhao3, S. Mantl3, U. Gösele1 (1.Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik(Germany), 2.IHP Frankfurt(Germany), 3.Forschungszentrum Jülich(Germany))

https://doi.org/10.7567/SSDM.2009.K-1-6