[K-1-6] Dislocation-Based Si-Nanodevices
M. Reiche1, M. Kittler2, D. Buca3, A. Hähnel1, Q. T. Zhao3, S. Mantl3, U. Gösele1
(1.Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik(Germany), 2.IHP Frankfurt(Germany), 3.Forschungszentrum Jülich(Germany))
https://doi.org/10.7567/SSDM.2009.K-1-6