画像処理による斜面の変位計測に用いるカメラの性能評価

講演情報

一般セッション

2. 調査・分類

2022年7月21日(木) 09:00 〜 10:30 第2会場 (小会議室303・304（3階）)

座長：志賀正崇（東京大学生産技術研究所）

*藤本創太¹、小泉圭吾¹ (1. 大阪大学)

キーワード：OCM、変位計測、画像処理

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※論文PDFは6月30日（木）に公開予定です。