^○和達大樹¹，Paul Beaud^2,3，Andrin Caviezel²，Simon Mariager²，Laurenz Rettig²，Gerhard Ingold³，Christian Dornes⁴，Shin Wen Huang²，J. A. Johnson²，Milan Radovic²，Thomas Huber⁴，Teresa Kubacka⁴，Andres Ferrer^2,4，Henrik Lemke⁵，Matthieu Chollet⁵，Diling Zhu⁵，James Glownia⁵，Marcin Sikorski⁵，Aymeric Robert⁵，中村優男⁶，川崎雅司^1,6，十倉好紀^1,6，Steven Johnson⁴，Urs Staub² (東大¹，SLS²，SwissFEL³，ETH⁴，LCLS⁵，理研CEMS⁶)

14:00 〜 14:15

▲ [17p-A13-2] Tomographic Micro-Imaging of Buried Layers and Interfaces with 15W X-ray Power Source

^〇（D）Jinxing Jiang^1,2，Kenji Sakurai^1,2 (University of Tsukuba¹, National Institute for Materials Science²)

14:15 〜 14:45

[17p-A13-3] Ｘ線反射率解析における可干渉成分の取り扱い（30分）

^○藤居義和 (神戸大)

休憩14:45～15:00 （14:45 〜 15:00）

15:00 〜 15:30

[17p-A13-4] Ｘ線回折格子干渉計による逆空間位相計測とイメージングの可能性(30分)

^○矢代航 (東北大多元研)

15:30 〜 16:00

[17p-A13-5] X 線CTR 散乱における直接的界面構造解析法とトポロジカル絶縁体界面への応用(30分)

^○白澤徹郎^1,2 (東大物性研¹，JST さきがけ²)

16:00 〜 16:30

[17p-A13-6] サマリーディスカション（30分）

セッション一覧

分科企画シンポジウム » Ｘ線反射率，表面Ｘ線散乱による埋もれた界面の解析における位相問題 - 新光源への期待

[17a-A13-1~5] Ｘ線反射率，表面Ｘ線散乱による埋もれた界面の解析における位相問題 - 新光源への期待

[17a-A13-1] Ｘ線反射率データ解析ブレークスルーの可能性

[17a-A13-2] 表面Ｘ線回折における位相問題解決の現状と展望（45分）

[17a-A13-3] GISAS解析のモデルにおける干渉性の取り扱い（30分）

[17a-A13-4] 位相問題を解決する方法としてのＸ線定在波法: 基板の結晶性が完全に近くなくても利用できるようにする取組み（30分）

[17a-A13-5] 放射光Ｘ線回折による表面界面の三次元原子イメージング（30分）

[17p-A13-1~6] Ｘ線反射率，表面Ｘ線散乱による埋もれた界面の解析における位相問題 - 新光源への期待