2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[15p-A23-1~20] 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2016年9月15日(木) 13:15 〜 18:45 A23 (201B)

前田 貴弘(グローバルウェーハズ・ジャパン)、小島 拓人(明治大)、大野 裕(東北大)

14:15 〜 14:30

[15p-A23-5] 炭素クラスターイオン注入Siエピウェーハの特徴(1)
-注入層における酸素が重金属のゲッタリング能力に与える影響-

柾田 亜由美1、仲井 敏郎1、廣瀬 諒1、門野 武1、奥山 亮輔1、古賀 祥泰1、奥田 秀彦1、栗田 一成1 (1.株式会社 SUMCO)

キーワード:シリコンウェーハ、炭素クラスターイオン注入、近接ゲッタリング