2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[21p-P17-1~26] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2016年3月21日(月) 16:00 〜 18:00 P17 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[21p-P17-24] 微小圧縮試験及び微小引張試験によるMEMS用Cu-Ni-Si合金の機械的特性評価

〇(M1)柳田 佐理1,2、荒木 章好1、Chang Tso-Fu Mark1,2、Chen Chu-Yi1,2、名越 貴志3、小林 郁夫1、細田 秀樹1、里 達雄1、曽根 正人1,2 (1.東工大、2.CREST、3.産総研)

キーワード:微小機械試験、Cu-Ni-Si合金、MEMS