スケジュール 1 13:45 〜 14:00 [J051-08] 気液界面の溶質分子密度と蒸発流束の関係の定量化 〇今井 宏樹1、遠藤 匠1、杵淵 郁也1 (1. 東京大学) キーワード:除熱デバイス、溶質分子、蒸発、気液界面