2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」 » 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

[20p-B31-1~17] 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

2019年9月20日(金) 13:45 〜 18:30 B31 (B31)

大島 孝仁(FLOSFIA)、藤原 宏平(東北大)、宇野 和行(和歌山大)

17:30 〜 17:45

[20p-B31-14] 熱硝酸によるβ-Ga2O3 (010)表面のSi不純物除去

亀井 海聖1、斉藤 拓海1、加渡 幹尚2、大友 明1,3 (1.東工大物質理工学院、2.トヨタ自動車、3.元素戦略)

キーワード:酸化ガリウム、エッチング、硝酸

β-Ga2O3は大きなバンドギャップを有する半導体材料であるが、その表面にSi不純物が存在することが知られており、デバイス応用に向けた電気特性評価が困難となっている。本研究では、Si不純物を除去する手段として、硝酸とその反応性を高めるための耐圧容器を用いた高温高圧下におけるエッチングを検討した。不純物濃度を解析した結果、硝酸エッチングによるSi不純物除去の有効性が明らかとなった。