[B202-3pm] 化学者のための放射光ことはじめ－XAFSの基礎と先端応用

[B202-3pm-03] X線顕微鏡を利用したXAFSイメージング計測とその利用

^○関澤 央輝¹ (1. 高輝度光科学研究センター)

［言語］日本語

キーワード：X線顕微鏡、XAFS、蛍光X線分析、X線顕微分光法