透過EBSD測定のための粉末試料前処理

講演情報

（口頭講演）

05: 放射線計測による分析・NMR・熱分析／30: その他

2022年9月16日(金) 09:15 〜 10:15 F会場 (B33)

座長：早川慎二郎（広島大学）

10:00 〜 10:15

*高橋悟¹ (1. 住友金属鉱山(株))

キーワード：Electron Backscatter Diffraction、Ar Ion milling、scanning electron microscope

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