16:30 〜 16:45
△ [18p-E10-13] Photoinduced Transient Spectroscopy 法を用いたIGZO薄膜トランジスタの電子状態評価
キーワード：PITS,IGZO,酸化物半導体
講演情報
一般セッション(口頭講演)
合同セッションＫ ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス » 合同セッションＫ ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス
[18p-E10-1~20] 合同セッションＫ ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス
2014年3月18日(火) 13:15 〜 18:30 E10 (E204)