[20p-F12-1~6] 13.4 デバイス/集積化技術

▲ [20p-F12-6] 高電圧オン状態・オフ状態ストレスによるpFETの|Vth|シフトとそのばらつき特性

^○NurulEzailaAlias，AnilKumar，TakuyaSaraya，ToshiroHiramoto (IIS, Univ. of Tokyo)

キーワード：ON-state stress,Variability,SRAM