13:30 〜 14:00
[14p-4C-1] High-kゲートスタック開発を振り返って
キーワード:高誘電率絶縁膜、フェルミレベルピニング、閾値制御
High-kゲートスタック開発においてキーとなったいくつかの物理的機構とそれを利用したhigh-k LSI実用化で何かが行われたかについて振り返って議論する。
シンポジウム(口頭講演)
シンポジウム » 越境する絶縁膜/半導体界面技術 ~ Si から Non-Si へ ~
2015年9月14日(月) 13:30 〜 16:45 4C (432)
座長:小山 正人(東芝),渡邉 孝信(早大)
13:30 〜 14:00
キーワード:高誘電率絶縁膜、フェルミレベルピニング、閾値制御