The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

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Oral presentation

Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices" » Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

[15a-A22-1~11] 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

Thu. Sep 15, 2016 9:00 AM - 12:00 PM A22 (Main Hall B)

Tomoki Abe(Tottori Univ.)

10:30 AM - 10:45 AM

[15a-A22-6] Development of Low Resistivity ITO Film Deposited at Low Temperature Sputtering

Yukiaki Oono1, Masanori Shirai1, Motoshi Kobayashi1, Hirohisa Takahashi1, Satoru Ishibashi1 (1.ULVAC, Inc.)

Keywords:Low Temperature Sputter, ITO, Low Resistivity

近年スマートフォンなどに使用されるタッチセンサーでは静電容量方式が主流で、ディスプレイにタッチ機能を搭載するOn-CellやIn-Cellと呼ばれるデバイス構造が採用されている。これらはカラーフィルタとTFTを貼り合せるために接着剤が使用されており、センサー形成時の成膜温度に制約があり、低温プロセスで良質膜を得ることがキーとなる。著者らは成膜時の基板温度を室温以下とすることでITO膜の電気特性を改善することに成功した。