The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

[19p-S223-1~10] 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

Sat. Mar 19, 2016 3:30 PM - 6:00 PM S223 (S2)

Tomo Ueno(TUAT), Koichiro Saga(Sony)

4:45 PM - 5:00 PM

[19p-S223-6] A study on atomically flat surface of Si(100) realized by annealing in Ar/H2 ambient

〇(D)Sohya Kudoh1, Shun-ichiro Ohmi1 (1.Tokyo Tech)

Keywords:surface flattening process,Silicon,annealing

前回、我々はSi(100)基板をAr/4%H2雰囲気中で熱処理することでSi表面の原子レベル平坦化を行い、その熱処理雰囲気依存性とMISダイオードの電気特性との相関について報告した。今回、Si(100)基板の熱処理による表面原子レベル平坦化について、熱処理条件に関する検討を行ったので報告する。