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△ [19p-S223-6] A study on atomically flat surface of Si(100) realized by annealing in Ar/H2 ambient
Keywords:surface flattening process,Silicon,annealing
前回、我々はSi(100)基板をAr/4%H2雰囲気中で熱処理することでSi表面の原子レベル平坦化を行い、その熱処理雰囲気依存性とMISダイオードの電気特性との相関について報告した。今回、Si(100)基板の熱処理による表面原子レベル平坦化について、熱処理条件に関する検討を行ったので報告する。