2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[20a-H113-1~12] 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2016年3月20日(日) 09:30 〜 12:45 H113 (本館)

沓掛 健太朗(東北大)、永井 勇太(グローバルウェーハズ・ジャパン)

11:45 〜 12:00

[20a-H113-9] シリコン結晶の高感度赤外吸収と赤外欠陥動力学(11)照射誘起複合体の挙動の結晶成長法依存性

井上 直久1,6、後藤 安則2、杉山 隆英3、関 洋文4、渡邉 香5、河村 裕一6 (1.東京農工大、2.トヨタ自動車、3.豊田中研、4.東レリサーチ、5.システムズエンジニアリング、6.大阪府大)

キーワード:シリコン単結晶、赤外吸収、照射誘起複合体

粒子線照射誘起複合体の種類や濃度は、炭素・酸素不純物濃度に依存しCZ,FZの成長法の違いに依存する。自動車用のパワーデバイスの特性はCiOiなどの照射誘起複合体により制御されるが、近年どの成長法の結晶を用いるかが課題の一つとなっている。300-400℃熱処理ではC-rich結晶ではCiOi+VO=CsO+O、VO+O=VO2が主な並行反応で競合する。C-leanやFZ結晶では優勢複合体が異なるがCiOiも形成され従属的に振る舞い温度依存性が異なる