2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.3 絶縁膜技術

[5p-C11-1~10] 13.3 絶縁膜技術

6.1と13.3と13.5のコードシェアセッションあり

2017年9月5日(火) 13:45 〜 16:30 C11 (事務室1)

井上 真雄(ルネサス)、渡邉 孝信(早大)

13:45 〜 14:00

[5p-C11-1] 結晶化高温アニールによる原子層堆積法Al2O3膜バイアス安定性の向上

〇(B)堀川 清貴1、大久保 智1、蔭浦 泰資1、平岩 篤2,3,4、川原田 洋1,2,3 (1.早大理工、2.材研、3.NTRC、4.名大未来研)

キーワード:ALD、Al2O3、アニール

結晶化高温アニールによる原子層堆積(atomic layer deposition、ALD)法により形成した Al2O3膜のフラットバンド電圧変動の低減が観測された。この結晶化とVfb変動との相関およびそのリーク電流に及ぼす影響を含め、高温アニールによるVfb変動低減効果を報告する。