2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

[5p-S42-1~15] 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

2017年9月5日(火) 13:15 〜 17:45 S42 (第2会議室)

山口 徹(NTT)、山本 治朗(日立)、谷口 淳(東理大)

14:45 〜 15:00

[5p-S42-6] p-クロロ-α-メチルスチレンを有したポジ型電子線レジストの露光特性の組成比依存性(Ⅱ)

〇(M2)落合 俊介1、髙山 智寛1、岸村 由紀子1、浅田 裕法1、岩熊 美奈子2、園田 愛恵2、星野 亮一3 (1.山口大、2.都城高専、3.ファインマテリアルシステム)

キーワード:非化学増幅型レジスト、露光特性、組成比