2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[6p-C21-1~20] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年9月6日(水) 13:45 〜 19:00 C21 (C21)

角嶋 邦之(東工大)、曽根 正人(東工大)

18:15 〜 18:30

[6p-C21-18] ハーフインチサイズパッケージのレーザビア形成プロセス

居村 史人1,2、井上 道弘1、猿渡 新水1、クンプアン ソマワン1,2、原 史朗1,2 (1.産総研、2.ミニマルファブ推進機構)

キーワード:ミニマル

我々はミニマルファブによるハーフインチサイズパッケージの開発を進めてきた。本プロセスのレーザビア加工では、ビア底にモールド樹脂の残渣(スミア)や、モールド樹脂に含有しているガラス系の球状の粒(シリカフィラー)がビア底に残存しやすく、これらがビア底でのウェハ上Al電極とCu配線との電気的接続を阻害する要因となっていた。今回、レーザビア加工プロセスとその後の洗浄プロセスについて評価を行ったので報告する。