2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[6p-C21-1~20] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年9月6日(水) 13:45 〜 19:00 C21 (C21)

角嶋 邦之(東工大)、曽根 正人(東工大)

14:15 〜 14:30

[6p-C21-3] 高密度水素プラズマによるオンサイト生成シランを用いたシリコンエピ成長とドーピング

〇(M2)武居 則久1、垣内 弘章1、安武 潔1、大参 宏昌1 (1.阪大院工)

キーワード:プラズマ、CVD、ドーピング

我々は,金属級Siから高純度Siを作製する一つの手法として,リモート型大気圧プラズマ化学輸送法を提案している.本手法では,高密度の水素プラズマによって固体Siを高速エッチングすることでシランガスをオンサイト生成し,危険な毒性ガスを高圧ガスとして保持する事無くSiのCVDが可能となる.今回は,不純物がドープされた固体Siから生成されるシランを用い,伝導型と導電率が制御されたエピSi膜の形成を試みた.