2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[6p-C21-1~20] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年9月6日(水) 13:45 〜 19:00 C21 (C21)

角嶋 邦之(東工大)、曽根 正人(東工大)

15:00 〜 15:15

[6p-C21-6] ミニマルSi-CVD装置における内部構造の影響

三ケ原 孝則1,2、石田 夕起2、伊藤 孝宏3、三浦 典子1、池田 伸一2、羽深 等4、クンプアン ソマワン2、原 史朗2 (1.ミニマルファブ推進機構、2.産総研、3.オリエンタルモーター、4.横国大)

キーワード:ミニマル

CVD装置をミニマル化するためには、内蔵ボンベの容量を小さくしガス流量を減らさなければならない。メガファブ装置とは違いウェハ面内での膜厚分布などの不均一性が大きくなる可能性がある。本発表では、熱と流れと化学反応を連成させたシミュレーションを行い、ミニマルCVD装置とメガファブを模したCVD装置との比較を行い装置の内部構造の影響を調べたので報告する。