10:45 〜 11:00 [17a-E206-8] W薄膜の内部応力に対する残留F濃度の影響評価 〇徳田 祥典1、原田 一範1、石川 諭1、今泉 俊介2、高本 聡2、泉 聡志2 (1.東芝、2.東大院工)