The 64th JSAP Spring Meeting, 2017

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si wafer processing /Si based thin film /Interconnect technology/ MEMS/ Integration technology

[14a-304-1~10] 13.4 Si wafer processing /Si based thin film /Interconnect technology/ MEMS/ Integration technology

Tue. Mar 14, 2017 9:15 AM - 12:00 PM 304 (304)

Takashi Noguchi(Univ. of the Ryukyus), Seiichiro Higashi(Hiroshima Univ.), Taizoh Sadoh(Kyushu Univ.)

10:00 AM - 10:15 AM

[14a-304-4] Poly-Si TFTs with metal source-drain on PI sheet by ELA

Taisei Harada1, Futa Gakiya1, Yuya Ishiki1, Tatsuya Okada1, Takashi Noguchi1, Kanji Noda2, Akira Suwa2,3, Hiroshi Ikenoue3 (1.Univ. of the Ryukyus, 2.GiGAPHOTON Inc., 3.Dept. of Gigaphoton Next GLP)

Keywords:TFT, ELA, Low temperature Process

エキシマレーザーアニールは、薄膜Si膜にUV光を効果的に吸収させ、溶融加熱できるため有効な結晶化技術である。SiへのUVレーザー光の侵入深さは数nmと非常に浅く、パルスの照射時間が短いため基板底部への熱ダメージが低くなる。得られる低温ポリシリコン膜は、a-Si 膜と比較して高い移動度を有し、ガラス上の小型高性能液晶ディスプレイやOLED駆動TFTに有効である。フレキシブルパネル上の機能化TFTシステムを目指し、ELAによって結晶化させたa-Siを用いて、金属ソース・ドレイン構造のTFTを低温で作製し、その電気的特性を評価した。その後、実際にフレキシブルパネル上にTFTを作製し、その電気的特性を評価した。