2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[16a-E206-1~13] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年3月16日(木) 09:00 〜 12:15 E206 (E206)

曽根 正人(東工大)、後藤 正英(NHK技研)

11:45 〜 12:00

[16a-E206-12] ミニマルパッケージプロセスとメタルPVDのハイブリッドプロセスを使ったFan-Out型RDLパッケージ試作

岩田 真典1、万波 徹1、山内 信義1、三宅 賢治1、居村 史人2、クンプアン ソマワン2、原 史朗2 (1.PMT、2.産総研)

キーワード:再配線、FOWLP、ミニマルプロセス

本実験はミニマルプロセスによりFan-Out型RDLパッケージの生産サイクルタイム短縮とコスト低減のための試作開発である。Cuシード層形成はプロセス技術が確立している8インチスパッタ装置を使用した。TEGチップをモールド樹脂に埋め込んだ8インチ再構成基板をレーザーくり抜き加工により0.5インチ基板にした後ミニマルハイブリッドプロセスで絶縁層とFan-Out型再配線形成を行い、マニアルプローブにて低抵抗な得られたことを確認した。