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[20p-133-8] a-Si1-xOx:H薄膜のパッシベーション性能
キーワード:太陽電池、ヘテロ接合、アモルファスシリコン
超薄型Rib構造ヘテロ接合太陽電池の表面パッシベーション層にa-Si1-xOx:H薄膜の適用を検討している。実際の素子で適用する数nmといった膜厚でのパッシベーション性能を評価するため、n型c-Si基板の両面にn型a-Si:H/a-Si1-xOx:Hを形成したサンドイッチ構造の試料を用いて、QSSPC法によるキャリアライフタイム評価を行った。